M2测量系统

       M2 测量系统，一体化机身设计，配置高精度电动导轨及高分辨率光斑分析仪捕捉激光光斑图像，并通过自主研发的分析软件测试 M2   因子、发散角、聚焦直径、束腰位置、瑞利长度以及其他激光光束质量参数。

       M2 测量系统整体准确度保持在±5％范围内，满足用户对光束质量参数的需求。可以广泛的用于激光技术、光纤通信，生物医学，激光加工制造等领域。交期短、售后快、高性价比，可替代进口光束质量分析仪，实现对激光光束的精确控制和质量优化。

产品性能优势：

u 可测量连续激光及脉冲激光光束质量

u 光谱检测范围 340-1100nm

u 检测精度 5%

u 操作简单、快速一键式测量

产品应用领域：

u 先进制造领域

u 科学研究

u 医学与生命科学

u 国防与航空航天

u 新兴技术应用