LL-LASER | 低阻硅片介绍 |
亮丽光电 本硅片为高纯度重掺杂单晶硅基材制备低阻单晶硅片. 电性稳定、导电性能优异。产品尺寸覆盖1-12英寸(25-300mm), 全规格常备现货。表面采用精密抛光工艺,表面光洁度高、平整 度好,表面缺陷少,适配各类半导体工艺实验与材料表征测试。 广泛应用于各大高等院校、科研院所、半导体企业研发中心。 | |
电阻率分级说明 | |
超低阻 | 0.001-0.01Ω.cm |
重掺杂高导电特性,适用于欧姆接触、功率器件基底、散热导电层制备。 | |
保准低阻 | 0.01-0.10.cm |
电性均衡稳定,适用于MOS管、IGBT、分立器件导电衬底。 | |
中低阻 | 0.1-0.9Ω.cm |
高校科研实验型,适用于镀膜、刻蚀、光伏电池、教学实验。 | |
LL-LASER |
低阻单晶硅片 (也称重掺片) |
生长方式 |
直拉单晶(CZ)、区熔单晶(FZ) |
掺杂类型 | P型(掺硼)、N型(掺磷、砷) |
晶向 | <111>、<100>、<110> |
尺寸规格 | 直径:1-12英寸 |
厚度:常规525μm、625μm、725μm及其它厚度,可定制 | |
电阻率 | 0.001-0.90Ω.cm |
工艺数据 | 平整度TIR:<3μm、TTV<10μm、翘曲度Warp<30μm、弯曲度BOW<30μm、 v粗糙度<0.5nm、颗粒度<10(for size>0.3μm) |
包装方式 | 100级洁净真空包装 |
用途介绍 |
微电子工艺实验、半导体功率器件研发;MEMS微机电系统、各类传感 器制备基底;镀膜、外延、刻蚀、氧化工艺实验等;SEM/AFM/XRD测 试导电基底,消除电荷积累;光伏电池研发、光电材料科研实验;高 校微电子、物理、材料、电子工程专业教学科研。 |