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硅片

低阻单晶硅片,导电硅片

产品说明:LL-LASER 低阻硅片介绍亮丽光电本硅片为高纯度重掺杂单晶硅基材制备低阻单晶硅片.电性稳定、导电性能优异。产品尺寸覆盖1-12英寸(25-300mm),全规
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LL-LASER

 低阻硅片介绍

亮丽光电

本硅片为高纯度重掺杂单晶硅基材制备低阻单晶硅片.

电性稳定、导电性能优异。产品尺寸覆盖1-12英寸(25-300mm),

全规格常备现货。表面采用精密抛光工艺,表面光洁度高、平整

度好,表面缺陷少,适配各类半导体工艺实验与材料表征测试。

广泛应用于各大高等院校、科研院所、半导体企业研发中心。

电阻率分级说明

超低阻

0.001-0.01Ω.cm

重掺杂高导电特性,适用于欧姆接触、功率器件基底、散热导电层制备。

保准低阻

0.01-0.10.cm

电性均衡稳定,适用于MOS管、IGBT、分立器件导电衬底。

中低阻

0.1-0.9Ω.cm

高校科研实验型,适用于镀膜、刻蚀、光伏电池、教学实验。


 

LL-LASER

 

低阻单晶硅片

(也称重掺片)

 

生长方式

 

直拉单晶(CZ)、区熔单晶(FZ)

掺杂类型

P型(掺硼)、N型(掺磷、砷)

晶向

<111>、<100>、<110>

 

尺寸规格

直径:1-12英寸

厚度:常规525μm、625μm、725μm及其它厚度,可定制

电阻率

0.001-0.90Ω.cm

 

工艺数据

平整度TIR:<3μm、TTV<10μm、翘曲度Warp<30μm、弯曲度BOW<30μm、 v粗糙度<0.5nm、颗粒度<10(for size>0.3μm)

包装方式

100级洁净真空包装

 

 

 

 

用途介绍

 

微电子工艺实验、半导体功率器件研发;MEMS微机电系统、各类传感

器制备基底;镀膜、外延、刻蚀、氧化工艺实验等;SEM/AFM/XRD测

试导电基底,消除电荷积累;光伏电池研发、光电材料科研实验;高

校微电子、物理、材料、电子工程专业教学科研。