高阻硅片
本征高阻硅片 (也称区熔单晶片,无掺杂,) | |
生长方式 |
区熔单晶(FZ) |
掺杂类型 | 区熔无掺杂本征电阻率 |
晶向 | <111>、<100>、<110> |
尺寸规格 | 直径:1-8英寸 |
厚度:常规525μm、625μm、725μm及其它厚度,可定制 | |
电阻率 | >1000Ω.cm |
工艺数据 | 平整度TIR:<3μm、TTV<10μm、翘曲度Warp<30μm、弯曲度BOW<30μm、 v粗糙度<0.5nm、颗粒度<10(for size>0.3μm) |
包装方式 | 100级洁净真空包装 |
用途介绍 | 5G通信射频芯片、基站射频模块、MEMS传感器、功率半导体基底、 光电探测器件、红外传感器件、高校常规实验、SEM扫描电镜基底、 镀膜村底、毫米波、太赫兹基础器件研发、量子传感初步实验、 高能物理探测器件、前沿物理实验, |